专利名称：基于超快光学扫频的宽带微波测量方法及装置专利类型：发明专利
发明人：张方正,周悦雯,潘时龙申请号：CN202010411271.1申请日：20200515公开号：CN111610366A公开日：20200901
摘要：本发明公开了一种基于超快光学扫频的宽带微波测量方法，用待测微波信号对光载波进行调制，生成仅保留单边一阶边带的调制光信号；将所述调制光信号与一路线性调频光信号耦合后进行光电探测；然后利用一中频窄带带通滤波器对光电探测所得电信号进行滤波，并提取滤波后信号的包络；根据所述滤波后信号的包络进行时频对应，得到待测微波信号的频谱。本发明还公开了一种基于超快光学扫频的宽带微波测量装置。相比现有技术，本发明的扫描速度更快，扫描范围更大，工作频率及带宽更灵活。
申请人：南京航空航天大学
地址：210000 江苏省南京市江宁区将军大道29号
国籍：CN
代理机构：北京德崇智捷知识产权代理有限公司
代理人：杨楠
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