专利名称：测试电路、集成电路及测试方法专利类型：发明专利发明人：西田治雄,石田卓也申请号：CN200410039373.6申请日：20040130公开号：CN1519575A公开日：20040811
摘要：本发明公开了一种测试电路、集成电路及测试方法。在具有通信用物理层电路PHY的宏块MB2和宏块MB1之间，以时钟频率CF1进行收发信号处理。该测试电路TC包括测试用的发送缓冲器TXB和接收缓冲器RXB，即，所述发送缓冲器TXB以比CF1低的频率CF2存储来自测试输入端子TPI的发送数据信号；所述接收缓冲器RXB以比CF1低的频率CF3将接收数据信号输出到测试输出端子TPO。发送缓冲器TXB以频率CF2存储来自端子TPI的发送数据信号后，以频率CF1将被存储的发送数据信号输出到MB2。接收缓冲器RXB，以频率CF1存储来自MB2的接收数据信号后，将被存储的接收数据信号以频率CF3输出到端子TPO。
申请人：精工爱普生株式会社
地址：日本东京
国籍：JP
代理机构：北京康信知识产权代理有限责任公司
代理人：余刚
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