专利名称：Logo缺陷检测方法及装置专利类型：发明专利
发明人：邓远志,陈润康,戴志威,陈志列申请号：CN201910619417.9申请日：20190710公开号：CN110910339A公开日：20200324
摘要：本发明提供一种Logo缺陷检测方法及装置。所述方法包括：构建VGG网络模型，其中，所述VGG网络模型中的两个最大池化层后面具有PCA层；对待检测的Logo图片进行分割，并记好分割后的每张图片在原图中的相对位置；对所述VGG网络模型进行训练，直至达到预设的最大迭代数，结束训练输出缺陷分类模型；将分割后的图片传入所述缺陷分类模型，对所述Logo图片的缺陷进行判定。本发明能够提升Logo缺陷的检测速度。
申请人：研祥智能科技股份有限公司
地址：518107 广东省深圳市光明新区高新路11号研祥智谷创祥地1号
国籍：CN
代理机构：北京兰亭信通知识产权代理有限公司
代理人：赵永刚
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