专利名称:一种X射线光谱测量和分幅成像系统专利类型:实用新型专利
发明人:钱凤,张强强,杨祖华,魏来,陈勇,晏卓阳,曹磊峰,谷渝
秋
申请号:CN201621010383.1申请日:20160830公开号:CN206074818U公开日:20170405
摘要:本实用新型公开了一种X射线光谱测量和分幅成像系统,包括滤片,针孔阵列板,屏蔽片,弯晶分析器,限光狭缝,光谱记录介质和成像记录介质。针孔阵列板与成像记录介质组成X射线分幅成像通道,每一个弯晶分析器、限光狭缝和一个光谱记录介质组成一个X射线光谱测量通道。该光谱测量和成像系统主要用于激光聚变、实验室天体物理等产生的等离子体X射线诊断,在同一次实验,同一个诊断孔中即可获得等离子体发射的光谱信息和具有时间分辨、空间分辨的等离子体演化图像。该系统具有测谱范围宽,能谱分辨率高,多分幅成像,应用范围广,空间体积小等优点。
申请人:中国工程物理研究院激光聚变研究中心
地址:621900 四川省绵阳市游仙区绵山路64号
国籍:CN
代理机构:重庆百润洪知识产权代理有限公司
代理人:刘立春
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