专利名称：一种半导体元器件绝缘测试装置专利类型：实用新型专利发明人：谭杰,区永强,肖志华申请号：CN201620538298.6申请日：20160606公开号：CN205691719U公开日：20161116
摘要：本实用新型公开一种半导体元器件绝缘测试装置，其中，包括一用于放置半导体元器件的引脚接触组件以及与所述引脚接触组件连接的用于对所述半导体元器件进行绝缘测试的测试爪接触组件；所述测试爪接触组件包括一测试爪、用于驱动所述测试爪上下移动的驱动机构以及通过金属固定片与所述测试爪固定在一起的塑胶块支架。采用本实用新型提供的一种半导体元器件绝缘测试装置，不仅提高了半导体元器件绝缘测试项的稳定性，而且提高了测试效率、降低了测试成本，同时有效避免了人为触电的可能性。
申请人：佛山市蓝箭电子股份有限公司
地址：528051 广东省佛山市禅城区古新路45号
国籍：CN
代理机构：深圳市君胜知识产权代理事务所
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