强大的JTAG边界扫描1-基本原理
发布网友
发布时间：1天前
共1个回答
热心网友
时间：1分钟前
强大的JTAG边界扫描：入门探索
在探索FPGA世界的过程中，我偶然接触到一种技术——JTAG边界扫描，它在没有硬件资料的情况下，提供了确定芯片管脚定义的解决方案。起因是我购买了一块二手的FPGA矿卡，尽管功能受限，但成为了学习JTAG扫描的理想平台。
首先，JTAG，全称Joint Test Action Group，原本是为集成电路测试而设计的，通过TAP（Test Access Port）控制器实现对芯片内部的测试访问。标准JTAG接口通常包含TCK（时钟）、TDI（数据输入）、TDO（数据输出）和TMS（模式选择）等信号，TRST（测试复位）可选。
通过JTAG，可以在不拆解板子的情况下，通过软件控制获取和修改芯片的任意管脚状态。例如，通过按压按键并观察FPGA管脚变化，或人为设置LED状态来识别接口。像MicroBlaze SDK入门学习等简单应用，虽受限于硬件，但足以展示JTAG的威力。
了解JTAG边界扫描的关键在于上位机软件，如TopJTAG这样的工具，它能与常见的调试器配合，如JLink和USB-Blaster，进行高效测试。更专业的方案则提供全套调试器和上位机，广泛应用于专业领域。
要深入学习，可以参考国外的资源，如EEVblog的视频和《ARM JTAG调试原理》文档，以及官方IEEE-Std-1149.1标准。通过这些工具，我成功地为那块FPGA矿卡确定了管脚定义，为后续学习和开发打下了基础。
